您好,歡迎來到秋山科技(東莞)有限公司!
Product center
用于低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)技術(shù)
檢查低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)變化。
(1) 可以在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量低磁導(dǎo)率的材料。
(2) 材料質(zhì)量控制可以很容易地進(jìn)行。
(3) 可以進(jìn)行混合不同材料的試驗(yàn)。
測(cè)量范圍 | 1.001-4 | ||
測(cè)量范圍 | 1.03·1.1·1.3·2.0·4.0(5個(gè)范圍) | ||
準(zhǔn)確性 | ± 3% 范圍 | ||
校準(zhǔn)方法 | 附標(biāo)準(zhǔn)試片 | ||
輸出 | DC 1V / FS(但是,當(dāng)設(shè)置范圍 1 時(shí)) | ||
電源 | AC100V ± 10% 50 / 60Hz 約 50VA | ||
外形尺寸(mm)/質(zhì)量 | 260W x 162H x 310D(包括突起)約4kg |